2017年南京航空航天大学868电离辐射探测学考研真题

时间:2017-11-07 16:51 来源:研导师 文加考研

     

2017年南京航空航天大学868电离辐射探测学考研真题

资料内容:

 

2017年南京航空航天大学868电离辐射探测学考研真题

 

真题原文:

南京航空航天大学
2017 年硕士研究生入学考试初试试题( A 卷 )
科目代码: 868 满分: 150 分 科目名称: 电离辐射探测学
注意: ①认真阅读答题纸上的注意事项;②所有答案必须写在答题纸上,写在本试题纸或草稿纸上均无
效;③本试题纸须随答题纸一起装入试题袋中交回!
一、选择题(每题 5 分,共 20 分)
1. 闪烁探测器中的闪烁体,在探测电离辐射时发光是因为
(1). 电离辐射使闪烁体电离而产生的
(2). 电离辐射使闪烁体的电子激发和退激发而产生的
(3). 电离辐射使闪烁体的电子和空穴的漂移而产生的
(4). 电子的雪崩现象。
2. 半导体探测器探测射线时,射线沉积在耗尽区的能量将激发产生
(1). 电子-离子对;
(2). 电子-光子
(3). 光电子;
(4). 电子-空穴对
3. γ射线能谱上的单逃逸峰是由
(1). 一个电子逃逸造成的;
(2). 一个正电子逃逸造成的;
(3). 一个湮灭光子的逃逸造成的;
(4). . 一对湮灭光子的逃逸造成的。
4. 造成γ射线能谱上的反散射峰的原因是
(1). 探测器晶体中康普顿反散射;
(2). 探测器周围材料中康普顿反散射;
(3). 探测器周围材料中湮灭光子;
(4). 探测器晶体中的多次康普顿散射
二、简答题(每题 6 分,共 30 分)
1. 周围材料对探测器的影响如下图所示,请画出探测器测得的能谱。
2. 如何测试正比计数器的正比性?
3. 试述负电性气体杂质对三种气体探测器性能的影响。
4. 在γ能谱测量中,常在全能峰的右边(更高能量处)会出现一个或几个峰,
这些是什么峰?如何产生的?
5. 中子按照能量可分为哪几类?常用的中子探测方法有哪些?说明中子活化
分析法中活化的流程,并大致画出活化片中放射性核素的变化情况。
三、计算和分析题:(每题 20 分,共 100 分
1. 在一次放射性测量中,已知样品的计数率约 1000min-1,本底计数率约
250min-1。 如果要求测量误差≤1%,测量样品和本底的时间各取多少?
2. 已知 GM 管的分辨时间τ为 350μs,测量得到的计数率为真实计数率的
1/2,请分别利用漏计数校正的两个模型,求出真实的计数率。
3. 一个平板型锗探测器,其本征区的厚度为 10 nm, 用一个脉冲发
生器输入脉冲到探测系统,得到等效的 FWHM 为 1.2 keV,请估算探测
器-电子学系统测量 140 keV γ射线时的能量分辨率。(对于锗,在 77K 时,
平均电离能为 2.96eV;法诺因子 F 为 0.08)
4. 分析并画出圆柱体高纯锗探测器的载流子收集特性曲线。
5. 某放射性核素衰变的γ谱(衰变纲图见插图),试分辨谱中各种峰,分别给
n+ 层
p+ 层
①②③


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